近日，由集團公司自主開發的一種X-射線熒光光譜法測定硫酸鎂及其水合物中鎂、硫元素含量的方法獲得國家發明專利授權。
X-射線熒光光譜法是目前元素分析領域中重要的分析方法，但此法在檢測含結晶水類產品時由于揮發出的水蒸氣會造成樣片開裂，影響數據穩定性和準確性，使其應用受限。
本發明通過優化測定方法流程，采用先灼燒后校正的方法，解決了X-射線熒光光譜測定方法在測定含結晶水類樣品時的技術難題，提升了檢測效率，標志著企業在技術創新發展的道路上又邁出了堅實的一步。
編制：沈潔 審校：李長龍 主審：楊云洪
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